[发明专利]用于测量库存管理应用中薄型材料厚度的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201780068704.4 申请日: 2017-11-13
公开(公告)号: CN109923380B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 塞巴斯蒂安·蒂克西尔;约翰·巴克斯卓;尤里·马克维奇;伊恩·巴伦 申请(专利权)人: 霍尼韦尔国际公司
主分类号: G01F23/284 分类号: G01F23/284;G01R31/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李晨;王丽辉
地址: 美国新*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种装置,该装置包括发射器(212),该发射器被配置成朝向罐(102)中的材料(104)发射包括电磁脉冲(220)的信号。该装置还包括接收器(214),该接收器被配置成接收包括脉冲的多个反射(222‑228,410)的信号(402)。该装置还包括至少一个处理设备(216),该至少一个处理设备被配置成处理所接收的信号并确定与罐中的材料相关联的测量值。为了处理所接收的信号,该至少一个处理设备被配置成将多个模型(414)拟合到所接收的信号上,选择模型中的一者,使用所选择的模型来识别所接收的信号中多个反射中的至少一者,并使用所接收的信号中的至少一个识别的反射来确定测量值。每个模型由多种类型的脉冲反射的叠加构建而成。
搜索关键词: 用于 测量 库存 管理 应用 中薄型 材料 厚度 装置 方法
【主权项】:
1.一种装置,包括:发射器(212),所述发射器被配置成朝向罐(102)中的材料(104)发射包括电磁脉冲(220)的信号;接收器(214),所述接收器被配置成接收包括所述脉冲的多个反射(222‑228,410)的信号(402);和至少一个处理设备(216),所述至少一个处理设备被配置成基于所接收的信号来确定与所述罐中的所述材料相关联的测量值;其中,为了确定所述测量值,所述至少一个处理设备被配置成:将多个模型(414)拟合到所接收的信号上,每个模型由多种类型的脉冲反射的叠加构建而成;选择所述模型中的一者;使用所选择的模型来识别所接收的信号中所述多个反射中的至少一者;以及使用所接收的信号中所述至少一个识别的反射来确定所述测量值。
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