[发明专利]磁性体复合颗粒及其制造方法、以及免疫测定用颗粒在审

专利信息
申请号: 201780053795.4 申请日: 2017-08-31
公开(公告)号: CN109661579A 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: 长尾大辅;今野幹男;石井治之;林久美子;小滨奈月;吉田贵行;上山俊彦 申请(专利权)人: 国立大学法人东北大学;同和电子科技有限公司
主分类号: G01N33/543 分类号: G01N33/543;C01G49/08;G01N33/553
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种磁性体复合颗粒,其通过利用磁性能够在短时间内从样品液体中分离,并且对样品液体的分散稳定性优异。提供一种磁性体复合颗粒,其在包含无机氧化物或聚合物的核颗粒的表面上形成有外壳,其中,所述外壳中含有磁性纳米颗粒和硅化合物,通过透射电子显微镜测定的所述磁性体复合颗粒的体积平均粒径(dTEM)的值为30nm以上且210nm以下,通过动态光散射法测定的所述颗粒的粒径(dDLS)的值与所述体积平均粒径(dTEM)的值之比即(dDLS)/(dTEM)的值为2.0以下。
搜索关键词: 复合颗粒 磁性体 体积平均粒径 样品液体 透射电子显微镜测定 动态光散射法测定 磁性纳米颗粒 分散稳定性 无机氧化物 硅化合物 免疫测定 聚合物 核颗粒 粒径 制造
【主权项】:
1.一种磁性体复合颗粒,其在包含无机氧化物或聚合物的核颗粒的表面上形成有外壳,其中,所述外壳中含有磁性纳米颗粒和硅化合物,通过透射电子显微镜测定的所述磁性体复合颗粒的体积平均粒径(dTEM)的值为30nm以上且210nm以下,通过动态光散射法测定的所述颗粒的粒径(dDLS)的值与所述体积平均粒径(dTEM)的值之比即(dDLS)/(dTEM)的值为2.0以下。
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