[发明专利]测试装置有效
| 申请号： | 201780052906.X | 申请日： | 2017-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN109690328B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 申晶澈 | 申请（专利权）人： | 李诺工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R3/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 地址： | 韩国釜山市江西区美音产团路*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开一种测试装置。所述测试装置包括：测试座，被配置成支撑多个探针；测试电路基板，包括用于接触所述探针的接触点；滑动件，使所述测试座耦合至所述测试电路基板及自所述测试电路基板分离；以及滑动件操作器，包括主体及滑动件按压部，所述主体配置在所述测试座上，所述滑动件按压部以能够上下移动的方式支撑于所述主体上且自所述主体朝所述滑动件向下移动以使所述滑动件能够沿所述测试座的表面方向滑动。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，包括：测试座，被配置成支撑多个探针；测试电路基板，包括用于接触所述探针的接触点；滑动件，使所述测试座耦合至所述测试电路基板及自所述测试电路基板分离；以及滑动件操作器，包括主体及滑动件按压部，所述主体配置在所述测试座上，所述滑动件按压部以能够上下移动的方式支撑于所述主体上且自所述主体朝所述滑动件向下移动以使所述滑动件能够沿所述测试座的表面方向滑动。
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