[发明专利]天线阵列校准系统和方法有效
| 申请号： | 201780051930.1 | 申请日： | 2017-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN109643847B | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | A·I·卡利尔;M·A·阿布德尔萨兰 | 申请（专利权）人： | 亚德诺半导体无限责任公司 |
| 主分类号： | H01Q3/26 | 分类号： | H01Q3/26;H01Q21/06 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 汪晶晶 |
| 地址： | 百慕大群岛(*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的各方面涉及使用设置在天线元件之间的探针的阵列校准系统和方法。在某些实施方案中，通过测量天线元件的近场相对相位和幅度测量并使用这种相对测量来调整连接到天线元件的收发器的幅度和相位来执行校准。在一些实施方案中，一组天线元件内的每个天线元件发送由单个探测器接收的信号，并且评估所接收的信号以确定相对相位或幅度测量值。在一些实施方案中，单个探测器发射由一组天线元件内的每个天线元件接收的信号，并且评估所接收的信号以确定相对相位和幅度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 阵列 校准 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种天线阵列校准的电子实现方法，包括：使用所述天线阵列的第一探针确定第一校准组的第一近场幅度关系，其中所述第一校准组包括所述天线阵列的至少第一天线元件和所述天线阵列的第二天线元件，并且所述第一探针对称地设置在所述第一天线元件和所述第二天线元件之间；使用所述第一探针确定至少所述第一天线元件和所述第二天线元件之间的第一近场相位关系；和存储所述第一近场幅度关系和所述第一近场相位关系作为所述天线阵列的校准数据。
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