[发明专利]天线阵列校准系统和方法有效

专利信息
申请号: 201780051930.1 申请日: 2017-08-25
公开(公告)号: CN109643847B 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: A·I·卡利尔;M·A·阿布德尔萨兰 申请(专利权)人: 亚德诺半导体无限责任公司
主分类号: H01Q3/26 分类号: H01Q3/26;H01Q21/06
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 汪晶晶
地址: 百慕大群岛(*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 天线 阵列 校准 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种天线阵列校准的电子实现方法,包括:

从第一探针向所述天线阵列的第一校准组无线地发射信号,其中所述第一校准组至少包括所述天线阵列的第一天线元件和所述天线阵列的第二天线元件,并且所述第一探针专用于校准,并且对称地设置在所述第一天线元件和所述第二天线元件之间,并且其中所述第一探针电连接到第一专用校准发射器,所述第一天线元件和所述第二天线元件电连接到与第一专用校准发射器不同的发射器;

基于从所述天线阵列的第一探针发射的信号确定至少所述第一天线元件和所述第二天线元件之间的第一近场幅度关系;

基于从所述第一探针发射的信号确定至少所述第一天线元件和所述第二天线元件之间的第一近场相位关系;

存储所述第一近场幅度关系和所述第一近场相位关系作为所述天线阵列的校准数据;

从第二探针向所述天线阵列的第二校准组无线地发射信号,其中所述第二校准组至少包括所述天线阵列的第二天线元件和第三天线元件,并且所述第二探针专用于校准,并且对称地设置在所述第二天线元件和所述第三天线元件之间,其中所述第二探针电连接到与所述第二天线元件和所述第三天线元件电连接到的发射器不同的第二专用校准发射器;

基于从所述天线阵列的第二探针发射的第二信号确定至少所述第二天线元件和所述第三天线元件之间的第二近场幅度关系,

使用所述第二探针确定至少所述第二天线元件和所述第三天线元件之间的第二近场相位关系;和

存储所述第二近场幅度关系和所述第二近场相位关系作为所述天线阵列的校准数据。

2.权利要求1所述的方法,其中所述天线阵列还包括第四天线元件,确定第一近场幅度关系还包括使用所述第一探针确定所述天线阵列的第一天线元件、第二天线元件、第三天线元件和第四天线元件之间的幅度关系,其中所述第一探针对称地设置在所述第一天线元件、所述第二天线元件、所述第三天线元件和所述第四天线元件之间;和

其中确定第一近场相位关系还包括使用所述第一探针确定所述第一天线元件、所述第二天线元件、所述第三天线元件和所述第四天线元件之间的相位关系。

3.权利要求1所述的方法,还包括在校准特定校准组期间停用未包括在所述特定校准组中的天线元件。

4.权利要求1所述的方法,其中确定第一近场幅度关系还包括:

从第一探针接收的第一天线元件监测信号电平的发射器发射射频信号,其中所述天线阵列的所有其他发射器关闭;和

从第一探针接收的第二天线元件监测信号电平的发射器发射射频信号,其中所述天线阵列的所有其他发射器关闭。

5.权利要求4所述的方法,其中确定第一近场相位关系还包括:

从所述第一天线元件和所述第二天线元件的发射器发射相同幅度的信号;和

相对于彼此相移所述信号以识别相位配置。

6.权利要求5所述的方法,其中使用相控移位器执行相移。

7.权利要求5所述的方法,其中确定第一近场相位关系还包括:

相对于彼此相移信号以识别180度异相相位配置。

8.权利要求4所述的方法,其中信号电平包括幅度测量。

9.权利要求4所述的方法,其中所述信号电平包括相位测量。

10.权利要求1所述的方法,其中确定第一近场幅度关系还包括从所述第一探针发射射频信号并监视在所述第一天线元件和所述第二天线元件处接收的信号电平。

11.权利要求10所述的方法,其中确定第一近场相位关系还包括:

接收从所述第一探针发射的信号,其中发射的信号具有相同的幅度;和

相对于彼此将接收的信号进行相移以识别所述第一天线元件和所述第二天线元件处的相位配置。

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