[发明专利]超声波探头和超声波内窥镜有效
申请号: | 201780044346.3 | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN109475350B | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | 佐藤直 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | A61B8/14 | 分类号: | A61B8/14;H04R17/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 超声波探头包括:多个压电元件;声阻匹配层,其与所述多个压电元件的超声波放射面接合;共用接地,在所述声阻匹配层的与所述压电元件接触的一侧的面上,该共用接地的至少一部分与所述压电元件接触地配置;防变形构件,其同所述声阻匹配层的与所述压电元件接触的一侧的所述面接触地配置;同轴线,其用于向多个所述压电元件分别传送信号;以及基板,其配置在所述压电元件的与所述超声波放射面相反的那一侧,用于将所述压电元件和所述同轴线电连接。由此,提供一种防止了由热量引起的超声波探头的性能下降的超声波探头。 | ||
搜索关键词: | 超声波 探头 内窥镜 | ||
【主权项】:
1.一种超声波探头,其特征在于,该超声波探头包括:多个压电元件;声阻匹配层,其与所述多个压电元件的超声波放射面接合;共用接地,在所述声阻匹配层的与所述压电元件接触的一侧的面上,该共用接地的至少一部分与所述压电元件接触地配置;防变形构件,其同所述声阻匹配层的与所述压电元件接触的一侧的所述面接触地配置;同轴线,其用于向多个所述压电元件分别传送信号;以及基板,其配置在所述压电元件的与所述超声波放射面相反的那一侧,用于将所述压电元件和所述同轴线电连接。
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