[发明专利]用于同时检测多个辐射的辐射探测器

摘要

用于检测辐射的系统（102）包括用于接收辐射的探测器阵列（106）和集成电路（IC）（108）。每个探测器检测特定类型的辐射并产生相应的探测器输出信号。IC从每个探测器接收相应的探测器输出信号，并产生指示检测辐射的输出信号。使用硅技术和薄膜技术中的至少一种来实现探测器阵列。使用互补金属氧化物半导体（CMOS）技术和薄膜技术中的至少一种来实现IC。

主权项

1.一种用于同时检测多个辐射的系统，包括：探测器阵列，用于接收多个辐射并产生相应的多个探测器信号，其中探测器阵列的探测器产生多个探测器信号的探测器信号，所述探测器包括：至少一个转换层，用于接收多个辐射并产生与多个辐射中的辐射对应的转换输出信号，和传感器，其连接到至少一个转换层，用于接收转换输出信号并产生探测器信号；和集成电路，其连接到探测器阵列，用于接收多个探测器信号并产生指示检测辐射的多个输出信号，所述集成电路包括：前置放大器阵列，其用于接收多个探测器信号并产生相应的多个放大的探测器信号，其中前置放大器阵列的前置放大器连接到探测器，用于接收探测器信号并产生多个放大的探测器信号中的放大的探测器信号；和信号整形电路阵列，其连接到相应的前置放大器阵列，用于接收多个放大的探测器信号并产生相应的多个输出信号，其中信号整形电路阵列的信号整形电路连接到前置放大器，用于接收放大的探测器信号并产生多个输出信号中的输出信号，并且其中使用硅技术和薄膜技术中的至少一种来实现探测器阵列，并且使用互补金属氧化物半导体（CMOS）技术和薄膜技术中的至少一种来实现集成电路。