[发明专利]用于KPI性能分析的具有无约束因变量的MPC

摘要

一种关键性能指标（KPI）性能分析的方法（100）。提供（101）用于工业过程的动态模型预测控制（MPC）过程模型，工业过程包括用于MPC控制器的受控变量（CV）和测量变量（MV）。MPC过程模型包括至少一个KPI，其也包括在用于工业过程的业务KPI监视系统中。估计（102）KPI的未来轨迹和KPI的稳态（SS）值。使用（103）未来轨迹和SS值来确定从CV和MV选择的关键工厂操作变量与KPI之间的动态关系。分析（104）KPI的性能，包括从动态关系和MV的至少一部分的当前值标识工业过程的操作期间的超过性能或性能问题的至少一个原因。

主权项

1.一种关键性能指标（KPI）性能分析的方法（100），包括：提供（101）用于工业过程的动态模型预测控制（MPC）过程模型，所述工业过程包括用于MPC控制器的多个受控变量（CV）和多个测量变量（MV），所述MPC控制器由具有存储所述MPC过程模型的存储器（211b）的处理器（221a）实现，所述MPC过程模型包括至少一个KPI，所述至少一个KPI也包括在用于所述工业过程的业务KPI监视系统中；估计（102）所述KPI的未来轨迹和其中所述KPI将稳定的稳态（SS）值；使用（103）所述未来轨迹和所述SS值，确定从所述多个CV和所述多个MV选择的关键工厂操作变量与所述KPI之间的动态关系，以及分析（104）所述KPI的性能，包括从所述动态关系以及所述MV的至少一部分的当前值标识所述工业过程的操作期间超过所述性能或所述性能中的问题的至少一个原因。