[发明专利]用于研究样品的方法和显微镜有效
| 申请号： | 201780020220.2 | 申请日： | 2017-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN108885336B | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | W·克内贝尔;F·法尔巴赫 | 申请（专利权）人： | 徕卡显微系统复合显微镜有限公司 |
| 主分类号： | G02B21/36 | 分类号： | G02B21/36 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇;王博 |
| 地址： | 德国韦*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于研究样品的方法。该方法的特征在于，同时在多个彼此不同的样品平面中分别沿一条照射线分别利用一个照射光束照射所述样品，并且分别利用一个探测PSF扫描每个沿照射线照射的样品区域并且同时且空间上分开地探测来自所照射的样品区域的探测光。此外，本发明涉及一种显微镜、尤其是用于实施这样的方法的显微镜。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 研究 样品 方法 显微镜 | ||
【主权项】：
1.用于研究样品的方法，其特征在于，同时在多个彼此不同的样品平面(9、10、14)中分别沿一条照射线(7、11、13)分别利用一个照射光束(8、12、15)照射所述样品，并且分别利用一个自己的探测PSF扫描每个沿照射线(7、11、13)照射的样品区域并且同时且彼此在空间上分开地探测来自照射的样品区域的探测光。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于徕卡显微系统复合显微镜有限公司，未经徕卡显微系统复合显微镜有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201780020220.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
