[实用新型]一种测量孔可调的X射线荧光分析用装试样器有效
| 申请号： | 201721741660.0 | 申请日： | 2017-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN207798712U | 公开（公告）日： | 2018-08-31 |
| 发明（设计）人： | 李杰;张穗忠;李洁;于录军;谢芬;夏念平 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 段姣姣 |
| 地址： | 430083 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种测量孔可调的X射线荧光分析用装试样器，主要由试样放置盒、设于试样放置盒上端的端盖、端盖上的观测孔一、试样放置盒内的弹簧垫板、弹簧垫板上放置的弹簧、弹簧上放置的试样垫板组成，其在于：在端盖的下端面连接有环状凸块，在环状凸块的下端连接有测量孔调节器，测量孔调节器通过螺纹与试样放置盒配合连接。本实用新型结构简单，仅需一套装置，减少了需要配置的试样盒的数量，从而提高分析效率，并使分析成降低本；其适用于不同大小的试样，通过旋拧端盖而调节测量孔的大小，确保了测量灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量孔 放置盒 端盖 调节器 弹簧垫板 环状凸块 可调的 弹簧 本实用新型 分析效率 配合连接 试样垫板 灵敏度 上端 观测孔 配置的 试样盒 下端面 螺纹 下端 旋拧 测量 分析 | ||
【主权项】：
1.一种测量孔可调的X射线荧光分析用装试样器，主要由试样放置盒、设于试样放置盒上端的端盖、端盖上的观测孔一、试样放置盒内的弹簧垫板、弹簧垫板上放置的弹簧、弹簧上放置的试样垫板组成，其特征在于：在端盖的下端面连接有环状凸块，在环状凸块的下端连接有测量孔调节器，测量孔调节器通过螺纹与试样放置盒配合连接。
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