[实用新型]适用于CSP产品的电性能测试装置有效
| 申请号： | 201721609685.5 | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN207571265U | 公开（公告）日： | 2018-07-03 |
| 发明（设计）人： | 何玉建;陈涛 | 申请（专利权）人： | 晶能光电（江西）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 330096 江西省*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种适用于CSP产品的电性能测试装置，电性能测试装置中包括中心对称设置的4根测试针，测试针垂直设置在电性能测试装置中；每根测试针的针头呈半圆形结构，且半圆结构朝向中心线设置；根据CSP产品正负电极的边线距离，测试针针头的直径为0.36～0.38mm(毫米)，中心点间距为0.56～0.58mm。其将测试针的针头设置为半圆形结构，不但可以与CSP产品的电极良好接触，同时能保证同一个测试针头能适用于不同型号的CSP产品，且有效接触。 | ||
| 搜索关键词： | 测试针 电性能测试装置 针头 半圆形结构 中心对称设置 本实用新型 半圆结构 边线距离 测试针头 垂直设置 良好接触 有效接触 正负电极 电极 中心点 保证 | ||
【主权项】：
1.一种适用于CSP产品的电性能测试装置，其特征在于，所述电性能测试装置中包括中心对称设置的4根测试针，所述测试针垂直设置在电性能测试装置中；每根所述测试针的针头呈半圆形结构，且半圆结构朝向中心线设置；根据CSP产品正负电极的边线距离，所述测试针针头的直径为0.36～0.38mm，中心点间距为0.56～0.58mm。
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