[实用新型]一种超大测量角度光谱共聚焦形状测量系统有效

专利信息
申请号: 201721437543.5 申请日: 2017-11-01
公开(公告)号: CN207351399U 公开(公告)日: 2018-05-11
发明(设计)人: 时博洋 申请(专利权)人: 时博洋
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 上海海贝律师事务所 31301 代理人: 范海燕
地址: 201600 上海市松江区九*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种超大测量角度光谱共聚焦形状测量系统,包括支架、XY电动扫描台与光学测头总装板,所述光学测头总装板通过第一测头夹具、第二测头夹具与第三测头夹具分别固定有第一测头、第二测头与第三测头,所述第二测头与第三测头分别对称位于第一测头两侧,所述第二测头夹具与第三测头夹具与光学测头总装板之间转动连接,本实用新型采用三只光谱共焦测量头组合测量,避免了单独一只光谱共焦测量头的最大可测量角度的局限性,通过将三只光谱共焦测量头组合为一个完整系统,三路光谱共焦同时测量样品表面,将测量数据自动组合到一起,最终实现输出一条形状测量值,整体设计可以在大大提高最大可测量角度的同时,保证更大的测量量程。
搜索关键词: 一种 超大 测量 角度 光谱 聚焦 形状 系统
【主权项】:
1.一种超大测量角度光谱共聚焦形状测量系统,包括支架(1)、XY电动扫描台(2)与光学测头总装板(3),所述光学测头总装板(3)位于XY电动扫描台(2)正上方,其特征在于:所述光学测头总装板(3)通过第一测头夹具(4)、第二测头夹具(5)与第三测头夹具(6)分别固定有第一测头(7)、第二测头(8)与第三测头(9),所述第一测头(7)与XY电动扫描台(2)所在平面相垂直,且正对XY电动扫描台(2)的中心点,所述第二测头(8)与第三测头(9)分别对称位于第一测头(7)两侧,且与第一测头(7)之间形成有初始夹角α,所述第二测头夹具(5)与第三测头夹具(6)与光学测头总装板(3)之间转动连接。
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