[实用新型]一种集成电路芯片批量测试设备有效
| 申请号： | 201721352513.4 | 申请日： | 2017-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN207301270U | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 许亚阳 | 申请（专利权）人： | 许亚阳 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/01 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 362100 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路芯片批量测试设备，其结构包括散热孔、测试设备主机、传送口、传送装置、玻璃窗口、电控箱、操作板、薄膜按键、开始按钮、显示器、警示灯，传送口安装在测试设备主机上，传送装置与传送口相连接，电控箱安装在测试设备主机底部并电连接，操作板焊接于电控箱表面并电连接，薄膜按键安装在操作板表面，开始按钮嵌在操作板表面并电连接，显示器安装在测试设备主机表面，显示器与操作板电连接，本实用新型一种集成电路芯片批量测试设备，结构上设有传送装置，通过电机给传送带提供动能对集成电路芯片进行传送，可以同时把较多个芯片传送进入测试设备主机进行测试，节省较多时间，从而大大提高了集成电路芯片测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 芯片 批量 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种集成电路芯片批量测试设备，其特征在于：其结构包括散热孔(1)、测试设备主机(2)、传送口(3)、传送装置(4)、玻璃窗口(5)、电控箱(6)、操作板(7)、薄膜按键(8)、开始按钮(9)、显示器(10)、警示灯(11)，所述传送口(3)安装在测试设备主机(2)上，所述传送装置(4)与传送口(3)相连接，所述电控箱(6)安装在测试设备主机(2)底部并电连接，所述操作板(7)焊接于电控箱(6)表面并电连接，所述薄膜按键(8)安装在操作板(7)表面，所述开始按钮(9)嵌在操作板(7)表面并电连接，所述显示器(10)安装在测试设备主机(2)表面，所述显示器(10)与操作板(7)电连接，所述警示灯(11)安装在测试设备主机(2)顶部，所述警示灯(11)与电控箱(6)电连接，所述传送装置(4)包括传送带(401)、支撑脚(402)、连接杆(403)、传动器(404)、电箱(405)、电机(406)，所述传送带(401)的底部与支撑脚(402)的顶部相连接，所述连接杆(403)与支撑脚(402)相焊接，所述传动器(404)与支撑脚(402)相连接，所述电箱(405)安装在连接杆(403)上方，所述传送带(401)与电机(406)通过传动器(404)连接，所述电机(406)与电箱(405)通过导线电连接。
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