[实用新型]辐射装置及辐射检查系统有效
申请号: | 201721201313.9 | 申请日: | 2017-09-19 |
公开(公告)号: | CN207263941U | 公开(公告)日: | 2018-04-20 |
发明(设计)人: | 闫雄;刘铮;高超 | 申请(专利权)人: | 北京君和信达科技有限公司 |
主分类号: | G01V5/00 | 分类号: | G01V5/00;G01N23/04 |
代理公司: | 北京展翼知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11452 | 代理人: | 屠长存 |
地址: | 100088 北京市西*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种辐射装置及辐射检查系统,包括扫描装置和衰减装置。扫描装置用于向检测区域发射扫描射线束。衰减装置具有多种工作模式,不同工作模式下衰减装置对扫描装置发射的不同部分的扫描射线束的强度进行衰减,以使得经过衰减后的扫描射线束入射到检测区域中的被检测物体上的相应部位的吸收剂量率低于预设阈值。由此,在保证检测规避部分不受高强度辐射的情况下,还不影响对被检测物体上的非检测规避部分的正常检测。 | ||
搜索关键词: | 辐射 装置 检查 系统 | ||
【主权项】:
一种辐射装置,其特征在于,包括:扫描装置,用于向检测区域发射扫描射线束;以及衰减装置,具有多种工作模式,不同工作模式下所述衰减装置对所述扫描装置发射的不同部分的扫描射线束的强度进行衰减,以使得经过衰减后的扫描射线束入射到所述检测区域中的被检测物体上的相应部位的吸收剂量率低于预设阈值。
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