[实用新型]一种原位双轴裂纹扩展路径自动跟踪测量系统有效

专利信息
申请号: 201720747091.4 申请日: 2017-06-24
公开(公告)号: CN206862772U 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 陈刚;林强;石守稳;王磊 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/06
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 代理人: 杜文茹
地址: 300192*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种原位双轴裂纹扩展路径自动跟踪测量系统,在光学平台台面上固定设置有十字滑台,十字滑台的台面上固定设置有双向加载装置,双向加载装置的上方对应被测试样设置有用于采集图像的电子显微镜,电子显微镜固定安装在粗微调显微支架上,粗微调显微支架中的导向柱的两端通过设置在光学平台台面上的支撑架进行固定,十字滑台的X方向和Y方向上的导轨滑块上分别设置有位移传感器,位移传感器的信号端连接XY双向移动平台控制器,双向加载装置中X方向和Y方向的夹具上分别设置一个力传感器,力传感器的信号端连接双向加载装置控制器,双向加载装置控制器和XY双向移动平台控制器分别连接计算机。本实用新型能够揭示材料在微观尺度下的裂纹发殿的过程。
搜索关键词: 一种 原位 裂纹 扩展 路径 自动 跟踪 测量 系统
【主权项】:
一种原位双轴裂纹扩展路径自动跟踪测量系统,包括有计算机(19),以及由光学平台台面(13)和光学平台支腿(14)构成的光学平台,其特征在于,所述的光学平台台面(13)上固定设置有十字滑台(12),所述十字滑台(12)的台面上固定设置有用于加载被测试样(10)的双向加载装置(11),所述的双向加载装置(11)的上方对应所述的被测试样(10)设置有用于采集图像的电子显微镜,所述的电子显微镜固定安装在粗微调显微支架(9)上,所述粗微调显微支架(9)中的导向柱(16)的两端通过设置在光学平台台面(13)上的支撑架进行固定,其中,所述十字滑台(12)的X方向和Y方向上的导轨滑块上分别设置有位移传感器,所述位移传感器的信号端连接XY双向移动平台控制器(18),所述双向加载装置(11)中X方向和Y方向的夹具上分别设置一个力传感器(7),所述力传感器(7)的信号端连接双向加载装置控制器(17),所述双向加载装置控制器(17)和XY双向移动平台控制器(18)分别连接计算机(19)。
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