[实用新型]一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置有效

专利信息
申请号: 201720652440.4 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN206863131U 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 高原;吴双;林江川;刘廷军;赵刚;钟龙权;秦风;陈自东;严志洋;赵景涛;杨浩;王明 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司51214 代理人: 詹永斌,沈强
地址: 621000 四川省*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,包括一个规则的几何框和与几何框分离的支撑杆,所述几何框上设置有若干个能沿着几何框的内框方向移动的定位杆,所述每一根定位杆指向几何框的中心且能伸缩,所述支撑杆的一端垂直于几何框截面并指向几何框中心,所述支撑杆的一端和定位杆上均设置有用于测试天线辐射场的探头;本实用新型设计巧妙,结构简单易于实现,使用方便且制作和维护费用较低,具有突出的实质性特点和显著进步,在天线测量与电磁波领域适合大规模推广应用。
搜索关键词: 一种 测试 天线 辐射 均匀 自动 装置
【主权项】:
一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于包括一个规则的几何框和与几何框分离的支撑杆,所述几何框上设置有若干个能沿着几何框的内框方向移动的定位杆,每一根定位杆指向几何框的中心且能伸缩,所述支撑杆的一端垂直于几何框截面并指向几何框中心,所述支撑杆的一端和定位杆上均设置有用于测试天线辐射场的探头。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院应用电子学研究所,未经中国工程物理研究院应用电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201720652440.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top