[实用新型]一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置有效

专利信息
申请号: 201720652440.4 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN206863131U 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 高原;吴双;林江川;刘廷军;赵刚;钟龙权;秦风;陈自东;严志洋;赵景涛;杨浩;王明 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司51214 代理人: 詹永斌,沈强
地址: 621000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 天线 辐射 均匀 自动 装置
【权利要求书】:

1.一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于包括一个规则的几何框和与几何框分离的支撑杆,所述几何框上设置有若干个能沿着几何框的内框方向移动的定位杆,每一根定位杆指向几何框的中心且能伸缩,所述支撑杆的一端垂直于几何框截面并指向几何框中心,所述支撑杆的一端和定位杆上均设置有用于测试天线辐射场的探头。

2.根据权利要求1所述的一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于所述几何框上设置有可以移动的云台,所述定位杆设置在云台上。

3.根据权利要求2所述的一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于几何框的内框表面上内嵌有齿轮带,所述云台上设置有与内框表面齿轮啮合的径向定位齿轮。

4.根据权利要求2所述的一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于所述定位杆上设置有齿轮带,所述云台上设置有与定位杆上齿轮啮合的周向定位齿轮。

5.根据权利要求2所述的一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于几何框上相对立的两个外侧上设置有凹槽,所述凹槽与云台上的两个定位卡扣卡入凹槽内。

6.根据权利要求1所述的一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于所述几何框设置在支撑平台上,所述支撑平台上设置有若干个支撑腿,几何框与支撑腿固定连接。

7.根据权利要求6所述的一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于所述支撑腿的上端面上设置有凹槽,所述凹槽的直径大于几何框的框体的宽度,所述几何框通过螺钉固定连接在凹槽内。

8.根据权利要求7所述的一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于所述凹槽的深度小于几何框框体的高度。

9.根据权利要求1-8任一所述的一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于所述支撑平台上设置有移动机构,使得支撑平台能再地面进行移动。

10.根据权利要求1所述的一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于所述支撑杆上探测头的端部与所有定位杆在同一平面内。

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