[实用新型]一种短路检测及保护电路

摘要

本实用新型提供一种短路检测及保护电路，检测电路、保护电路，所述保护电路包括有光耦Ⅰ、MOS管Ⅰ以及功放电阻3R1和EPLD，所述光耦Ⅰ的输入端接EPLD输出端，光耦Ⅰ输出端接MOS管ⅠG极，光耦Ⅰ输出信号驱动MOS管Ⅰ通断，所述MOS管Ⅰ的D极经功放电阻3R1后接负载钼丝，MOS管ⅠG极接收高电平导通，S极电压上升；所述检测电路包括有采样电阻3R2、可控稳压源、光耦Ⅱ，所述采样电阻3R2一端接地，另一端接MOS管Ⅰ的S极，判断加工处于短路状态或是空载状态，若是加工短路状态，可控稳压源、光耦Ⅱ导通，EPLD将停止发震荡信号给光耦，避免短路电流大造成短断丝，直到检测到钼丝不处在短路状态时EPLD再发震荡信号，根据相应的状态做出相应的调整使其处在稳定状态下加工。

主权项

一种短路检测及保护电路，包括：检测电路、保护电路，其特征在于：所述保护电路包括有：光耦Ⅰ、MOS管Ⅰ以及功放电阻3R1和可擦除可编辑逻辑器件（以下简称：EPLD），所述光耦Ⅰ的输入端接EPLD输出端，光耦Ⅰ输出端接MOS管Ⅰ栅极（G极），利用光耦Ⅰ输出信号驱动MOS管Ⅰ，所述MOS管Ⅰ的漏极（D极）经功放电阻3R1后接负载钼丝；所述检测电路包括有：采样电阻3R2、可控稳压源、光耦Ⅱ，所述采样电阻3R2一端接地，另一端接MOS管Ⅰ的源极（S极），用于检测MOS管Ⅰ的负载钼丝状态，所述可控稳压源参考极接采样电阻3R2与MOS管Ⅰ源极（S极）公共端，所述可控稳压源阴极（R极）接光耦Ⅱ输入端，所述光耦Ⅱ输出端接EPLD输入端，用于将加工状态反馈于EPLD。