[实用新型]新型微弱磁场测量仪

摘要

本实用新型提供一种新型微弱磁场测量仪，线圈通电时在磁场中受力偏转，偏转过程中带动劈尖的上下玻璃板相对转动使劈尖的角度改变，从而使干涉条纹产生变化。摄像装置记录经过读数显微镜放大后的干涉条纹和条纹的变化过程，并将记录的干涉条纹图像传给计算机，在计算机上安装的Imagej软件用来接收图像，并分析出干涉条纹的间距，再利用计算机上编写的软件分析干涉条纹的间距变化从而得出磁感应强度。本实用新型应用了光学放大原理，受材料性能和环境温度等因素影响较小，测量精度和灵敏度高，可以测量到10‑4T的微弱磁场，而且可连续测量。另外装置所需材料容易得到，使装置生产制作更加容易。

主权项

一种新型微弱磁场测量仪，其特征在于：包括箱体(1)、弹簧(2)、线圈(3)、电流供给装置(4)、劈尖装置(5)、钠光灯(6)、支撑台(7)、读数显微镜(8)、摄像装置(9)、计算机(10)，所述电流供给装置(4)电气连接线圈(3)，该线圈(3)设置在箱体(1)内的支架(11)上并可绕该支架转动，线圈(3)通过所述弹簧(2)连接到箱体(1)上，线圈(3)与劈尖装置(5)的上板接触连接，劈尖装置(5)的下板固定在所述支撑台(7)上，劈尖装置(5)的上板与下板转动连接，所述钠光灯(6)产生的定波长的光照射在劈尖装置(5)上，所述读数显微镜(8)设置在支撑台(7)上，其物镜对准劈尖装置(5)、目镜上设置所述摄像装置(9)，摄像装置(9)连接至计算机(10)。