[实用新型]一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置有效
| 申请号： | 201720365645.4 | 申请日： | 2017-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN206648612U | 公开（公告）日： | 2017-11-17 |
| 发明（设计）人： | 付治 | 申请（专利权）人： | 苏州东辉光学有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 广州市红荔专利代理有限公司44214 | 代理人： | 关家强,吴伟文 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置，所述激光测量装置包括装置底板，所述装置底板上设有激光器、固定激光器的支架、刻度板、固定刻度板的定位架、置件台；所述刻度板设于所述激光器与置件台之间；所述置件台上设有工件台，所述置件台上设有位置调节器；所述刻度板呈矩形，所述刻度板上设有光学刻度。通过上述方式，本实用新型能够实现对特殊圆柱面带契角的光学晶体的角度测量，操作简单便捷，测量角度时能够直观的读取产品的测量角度，测量精度高；并且被测产品装夹方便，且能任意调整位置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光学 晶体 角度 测量 激光 装置 | ||
【主权项】：
一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置，其特征在于，所述激光测量装置包括：装置底板，所述装置底板上设有激光器、固定激光器的支架、刻度板、固定刻度板的定位架、置件台；所述刻度板设于所述激光器与置件台之间；所述置件台上设有工件台，所述置件台上设有位置调节器；所述刻度板呈矩形，所述刻度板上设有光学刻度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州东辉光学有限公司，未经苏州东辉光学有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201720365645.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种新型同轴检测工具
- 下一篇：抽油机皮带四点一线校正仪
