[实用新型]金属化薄膜光密检测探头和金属化薄膜光密检测仪有效
| 申请号： | 201720360760.2 | 申请日： | 2017-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN207095506U | 公开（公告）日： | 2018-03-13 |
| 发明（设计）人： | 林永贵 | 申请（专利权）人： | 江门市旭晨科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 广州新诺专利商标事务所有限公司44100 | 代理人： | 华辉 |
| 地址： | 529101 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了金属化薄膜光密检测探头，包括光发射端和用于接收所述光发射端发出并穿透金属化薄膜的光的光接收端；所述光接收端包括用于测量光吸收度的光传感器。使用本实用新型的金属化薄膜光密检测探头，能对厚度较厚的高方阻薄膜进行检测。本实用新型还公开了金属化薄膜光密检测仪，包括多个金属化薄膜光密检测探头、底座和仪器壳体；所述仪器壳体设置在所述底座上；所述检测探头设置在所述底座和所述仪器壳体形成的空间内。使用本实用新型的金属化薄膜光密检测仪，能对薄膜多点的方阻值进行检测，确保生产出的薄膜厚度符合质量要求。 | ||
| 搜索关键词： | 金属化 薄膜 检测 探头 | ||
【主权项】：
金属化薄膜光密检测探头，其特征在于：包括光发射端和用于接收所述光发射端发出并穿透金属化薄膜的光的光接收端；所述光接收端包括用于测量光吸收度的光传感器。
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