[实用新型]一种X射线半值层测试支架有效

专利信息
申请号: 201720216627.X 申请日: 2017-03-07
公开(公告)号: CN206540851U 公开(公告)日: 2017-10-03
发明(设计)人: 刘本全;吴少海;吴炽昌 申请(专利权)人: 深圳市一测医疗测试技术有限公司
主分类号: G01N23/06 分类号: G01N23/06;G01D11/30
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司44384 代理人: 高早红,谢亮
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种X射线半值层测试支架,包括三脚架、安装固定在所述三脚架上的支撑板、安装于所述支撑板上的铝片以及设于所述铝片顶面的挡片,所述支撑板呈“L”型,包括相互成一定角度的第一面体与第二面体,所述第一面体远离第二面体端的一侧设有凹坑,所述凹坑中间设有第一通孔,所述铝片底部嵌入至所述凹坑内,所述凹坑周边设有若干第二通孔,所述第一面体与所述第二面体连接这一端设有若干第三通孔,所述第二面体上设有若干第三通孔。本实用新型可竖直放置或水平放置半值层铝片,支架高度可调节,本实用新型小巧轻便,易于收纳,携带方便。
搜索关键词: 一种 射线 半值层 测试 支架
【主权项】:
一种X射线半值层测试支架,其特征在于,包括:三脚架、安装固定在所述三脚架上的支撑板、安装于所述支撑板上的铝片以及设于所述铝片顶面的挡片,所述支撑板呈“L”型,包括相互成一定角度的第一面体与第二面体,所述第一面体远离第二面体端的一侧设有凹坑,所述凹坑中间设有第一通孔,所述铝片底部嵌入至所述凹坑内,所述凹坑周边设有若干第二通孔,所述第一面体与所述第二面体连接这一端设有若干第三通孔,所述第二面体上设有若干第三通孔。
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