[发明专利]漫反射测量中接触压力干扰抑制方法、装置及测量方法有效
| 申请号： | 201711498787.9 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN109984725B | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 王志懋;赵丕城;徐可欣 | 申请（专利权）人： | 天津先阳科技发展有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 吴梦圆 |
| 地址： | 300457 天津市滨海*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种漫反射测量中接触压力干扰抑制方法，包括：获取接触压力在光谱测量中多个径向位置处产生的干扰；选取干扰最小的径向位置作为压力不敏感位置，以该压力不敏感位置为测量位置获取光谱数据，以抑制接触压力对光谱数据的影响。进一步提供了用于实现该抑制方法的装置以及基于该抑制方法的测量方法。本发明可降低测量过程压力波动造成的干扰，无需增加额外的压力控制装置，使测量结果更为可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 漫反射 测量 接触 压力 干扰 抑制 方法 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种漫反射测量中接触压力干扰抑制方法，包括：获取接触压力在光谱测量中多个径向位置处产生的干扰；选取干扰最小的径向位置作为压力不敏感位置，以该压力不敏感位置为测量位置获取光谱数据，以抑制接触压力对光谱数据的影响。
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