[发明专利]基于粗锥光纤干涉结构光纤激光器的温度测试系统在审

专利信息
申请号: 201711497527.X 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN108036925A 公开(公告)日: 2018-05-15
发明(设计)人: 祝连庆;何巍;张雯;董明利;娄小平;李红;陈少华 申请(专利权)人: 北京信息科技大学
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;H01S3/067;H01S3/091
代理公司: 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 代理人: 顾珊;庞立岩
地址: 100085 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了基于粗锥光纤干涉结构光纤激光器的温度测试系统,包括泵浦源、波分复用器、掺杂光纤、耦合器、光谱仪和粗锥光纤;所述波分复用器、掺杂光纤、耦合器和粗锥光纤依次分别通过光纤连接成串通结构;所述泵浦源通过光纤与波分复用器熔接;所述光谱仪通过光纤与耦合器熔接;所述光纤为9/125μm单模光纤;本发明涉及光纤传感技术领域;该基于粗锥光纤干涉结构光纤激光器的温度测试系统,通过PC端、ASE光源、光纤环形器、光谱分析仪、连接器和控制器的配合使用,实现高稳定性的可调谐激光输出,使得光纤激光器的温度测试更加简单化,提高了测试效率的同时也提高了测试的准确性,实用性强,易于推广使用。
搜索关键词: 基于 光纤 干涉 结构 激光器 温度 测试 系统
【主权项】:
1.基于粗锥光纤干涉结构光纤激光器的温度测试系统,其特征在于,包括泵浦源(1)、波分复用器(2)、掺杂光纤(3)、耦合器(4)、光谱仪(5)和粗锥光纤(6);所述波分复用器(2)、掺杂光纤(3)、耦合器(4)和粗锥光纤(6)依次分别通过光纤连接成串通结构;所述泵浦源(1)通过光纤与波分复用器(2)熔接;所述光谱仪(5)通过光纤与耦合器(4)熔接。
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