[发明专利]光电子器件故障定位方法及系统在审
| 申请号： | 201711491654.9 | 申请日： | 2017-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN108229613A | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 左璠;杨明;段正兵 | 申请（专利权）人： | 武汉凌科通光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06K17/00 | 分类号： | G06K17/00 |
| 代理公司： | 武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242 | 代理人： | 吴阳 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区华师园*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种光电子器件故障定位方法，包括：S1、配置光电子器件故障检测中各个环节对应的检测工位点；S2、获取光电子器件故障检测中各个环节对应的检测内容；根据各个环节对应的检测内容生成检测装置的检测时间信息、检测项目信息；根据检测装置的检测时间信息、检测项目信息生成被测光电子器件到达各个环节对应的检测工位点的时间点信息、停留时间信息以及检测装置测试命令；S3、控制被测光电子器件到达检测工位点的时间点，并通过检测装置根据测试命令对光电子器件当前环节的测试内容进行测试；并记录本次测试结果信息；重复执行本步骤直至所有环节测试完毕；S4、根据所有测试结果信息获取光电子器件的故障定位信息。 | ||
| 搜索关键词： | 光电子器件 检测 检测装置 时间信息 环节 工位 测试结果信息 测试命令 故障定位 故障检测 项目信息 故障定位信息 通过检测装置 时间点信息 测试 测试内容 电子器件 内容生成 重复执行 时间点 停留 记录 配置 | ||
【主权项】：
1.一种光电子器件故障定位方法，其特征在于，其包括如下步骤：S1、配置光电子器件故障检测中各个环节对应的检测工位点；S2、获取光电子器件故障检测中各个环节对应的检测内容；根据各个环节对应的检测内容生成检测装置的检测时间信息、检测项目信息；根据检测装置的检测时间信息、检测项目信息生成被测光电子器件到达各个环节对应的检测工位点的时间点信息、停留时间信息以及检测装置测试命令；S3、根据被测光电子器件到达各个环节对应的检测工位点的时间点信息控制被测光电子器件到达检测工位点的时间点，并通过检测装置根据测试命令对光电子器件当前环节的测试内容进行测试；并记录本次测试结果信息；重复执行本步骤直至所有环节测试完毕；S4、根据所有测试结果信息获取光电子器件的故障定位信息。
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