[发明专利]一种MSM结构4H-SiC紫外光电探测器的制备方法有效
申请号: | 201711482215.1 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN108231953B | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
发明(设计)人: | 林鼎渠;吴正云;洪荣墩;孙存志;张志威 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0224 |
代理公司: | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人: | 马应森 |
地址: | 361005 *** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
一种MSM结构4H‑SiC紫外光电探测器的制备方法,涉及紫外光电探测器的制备。在n型4H‑SiC衬底外延生长一层半绝缘层后,将材料样品切割成矩形条状样品,采用标准RCA程序清洗表面,进而采用电热分解生长方法,通过环境条件、温度及生长时间控制,使用DC直流电源通电于矩形条状样品两端,直接在4H‑SiC外延层的Si面热生长多层石墨烯薄膜,优化生长技术条件,通过光刻图形化,结合ICP刻蚀,在器件表面制备出MSM结构用的叉指电极;溅射沉积组合金属焊盘,再在样品表面通过等离子体增强化学气相沉积法覆盖生长一层致密的SiO |
||
搜索关键词: | 一种 msm 结构 sic 紫外 光电 探测器 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种MSM结构4H‑SiC紫外光电探测器的制备方法,其特征在于包括以下步骤:1)在n型4H‑SiC衬底外延生长一层半绝缘层后,将材料样品切割成矩形条状样品,采用标准RCA程序清洗表面,进而采用电热分解生长方法,通过环境条件、温度及生长时间控制,使用DC直流电源通电于矩形条状样品两端,直接在4H‑SiC外延层的Si面热生长多层石墨烯薄膜,分别考虑薄膜厚度和质量对入射紫外光的吸收、光生电流及响应速度等影响因素,优化生长技术条件,通过光刻图形化,结合ICP刻蚀,在器件表面制备出MSM结构用的叉指电极;2)溅射沉积组合金属焊盘,再在样品表面通过等离子体增强化学气相沉积法覆盖生长一层致密的SiO2作为钝化层;3)用光刻与刻蚀工艺,去除圆形焊盘区域上的SiO2,即得MSM结构4H‑SiC紫外光电探测器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门大学,未经厦门大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711482215.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光伏电池模组及其制备工艺
- 下一篇:一种太阳能电池的制备方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的