[发明专利]基于弱测量的波函数直接测量方法及装置有效
| 申请号： | 201711465638.2 | 申请日： | 2017-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN108240869B | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | 郑翔;廖开宇;周忆如;张新定;张善超;颜辉 | 申请（专利权）人： | 华南师范大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 44326 广州容大专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 刘新年;潘素云 |
| 地址： | 510000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于弱测量的波函数直接测量方法及装置，该方法包括如下步骤：在某一时刻对待测单光子施加相位调制，调制深度控制到微扰程度；在同一时刻对待测单光子施加振幅调制，调制深度同样控制到微扰程度；将没有经过弱调制的单光子、经过相位弱调制的单光子以及经过振幅弱调制的单光子进行频域强选择，选出特定频率光子进行符合计数；采集特定频率的没有经过弱调制的光子数、经过相位弱调制的光子数以及经过振幅弱调制的光子数，进行比较计算可以还原出弱值及待测波函数。本发明将实现对波函数的直接非破坏性测量，同时由于预选态与后选态趋于正交，弱值理论上可以接近无限大，大幅提升测量精度和有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 弱调制 单光子 波函数 光子数 直接测量 测量 微扰 调制 非破坏性测量 施加 比较计算 深度控制 同一时刻 相位调制 振幅调制 光子 频域 正交 还原 采集 | ||
【主权项】：
1.一种基于弱测量的波函数直接测量方法，其特征在于，包括如下步骤：/n在某一时刻对待测单光子施加相位调制，调制深度控制到微扰程度；/n在同一时刻对待测单光子施加振幅调制，调制深度同样控制到微扰程度；/n将没有经过弱调制的单光子、经过相位弱调制的单光子以及经过振幅弱调制的单光子进行频域强选择，选出特定频率光子进行符合计数；/n采集特定频率的没有经过弱调制的光子数、经过相位弱调制的光子数以及经过振幅弱调制的光子数，进行比较计算可以还原出弱值及待测波函数；/n所述基于弱测量的波函数直接测量方法用于时域波函数直接测量方法具体如下：/n将待测时域波函数表示为ψ(t)，时域弱调制可以表示为
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