[发明专利]基因测序仪有效

专利信息
申请号: 201711464458.2 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN109971629B 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 赵磊;孙志远;曹艳波 申请(专利权)人: 长春长光华大智造测序设备有限公司
主分类号: C12M1/34 分类号: C12M1/34
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 彭家恩;罗瑶
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 本申请所公开的一种基因测序仪,包括:基座,设置于所述基座上方的光学成像装置;基座中心处设有吸振块,其可在所述基座表面滑动,工件台设置于吸振块上方并可在吸振块表面移动;吸振块与所述基座之间设有多组振动补偿装置,振动补偿装置包括沿水平方向设置的第一避振弹簧及第一阻尼件。本发明在工件台底部设置吸振块,工件台运动产生的振动通过吸振块反向运动抵消,并且吸振块与基座之间设置的振动补偿装置可将吸振块复位,降低或避免来自工件台的振动传递至光学成像装置;固定架与基座之间设置的隔振器能够阻隔来自外部地基及工件台溢出的振动,避免振动传递给光学成像装置。
搜索关键词: 基因 测序仪
【主权项】:
1.一种基因测序仪,其特征在于,包括:基座;光学成像装置,所述光学成像装置设置于所述基座上方;工件台;吸振块,所述吸振块设置于所述基座上表面中心处,并可在所述基座表面移动,所述工件台设置于所述吸振块上表面,并可在所述吸振块表面移动;振动补偿装置,所述振动补偿装置包括沿水平方向设置的避振弹簧及阻尼件,所述振动补偿装置于所述吸振块与所述基座之间设有多组。
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