[发明专利]基因测序仪有效
申请号: | 201711464458.2 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN109971629B | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 赵磊;孙志远;曹艳波 | 申请(专利权)人: | 长春长光华大智造测序设备有限公司 |
主分类号: | C12M1/34 | 分类号: | C12M1/34 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 彭家恩;罗瑶 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基因 测序仪 | ||
1.一种基因测序仪,其特征在于,包括:
基座;
光学成像装置,所述光学成像装置设置于所述基座上方;
工件台;
吸振块,所述吸振块设置于所述基座上表面中心处,并可在所述基座表面移动,所述工件台设置于所述吸振块上表面,并可在所述吸振块表面移动;
振动补偿装置,所述振动补偿装置包括沿水平方向设置的第一避振弹簧及第一阻尼件,所述振动补偿装置于所述吸振块与所述基座之间设有多组;
所述基座上方设有用于承载所述光学成像装置的固定架,所述固定架与所述基座之间设有隔振器;
所述吸振块上表面设有可供所述工件台运动的活动区,所述吸振块上设有用于驱动所述工件台运动的直线电机,当直线电机驱动工件台在吸振块表面运动时,由于动量守恒定律,吸振块会反向运动,从而将工件台产生的振动抵消;
所述活动区呈半包围结构,其顶部开口且正对所述光学成像装置。
2.如权利要求1所述的基因测序仪,其特征在于,所述工件台与所述吸振块表面之间为气浮接触,所述吸振块与所述基座表面为气浮接触。
3.如权利要求1所述的基因测序仪,其特征在于,所述隔振器包括沿竖直方向设置的第二避振弹簧及第二阻尼件。
4.如权利要求1所述的基因测序仪,其特征在于,所述基座底部设有用于隔振的橡胶垫。
5.如权利要求1所述的基因测序仪,其特征在于,所述吸振块与所述基座之间设置四组振动补偿装置,所述四组振动补偿装置分别设置于所述吸振块水平横向及纵向的四个方位。
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