[发明专利]一种基于像素尺度的DEM数据误差评价与校正方法

摘要

本发明公开了一种基于像素尺度的DEM数据误差评价与校正方法，通过充分利用DEM数据误差与地表形态特征数据间的关系，将基于原始DEM数据与高精度高程点数据得到的误差点数据进行分类，得到建模点和检核点两种数据，基于建模点数据的高程误差与地表形态特征数据建立回归模型，利用回归模型建立DEM数据误差与地表形态特征数据间的定量关系，进而定量获得基于像素尺度的DEM数据的误差分布，并基于检核点数据对原始DEM数据进行校正，最终实现对原始DEM数据的误差评价与精度校正，从而提高了DEM数据应用的可靠性，具有很好的推广前景。

主权项

1.一种基于像素尺度的DEM数据误差评价与校正方法，其特征在于，所述误差评价与校正方法基于区域内的原始DEM数据、高程点数据以及地表形态特征数据进行，包括以下步骤：步骤1：根据原始DEM数据和高程点数据，以高程点数据作为控制点，得到误差点数据；步骤2：将误差点数据分为两类，分别为检核点数据和建模点数据；步骤3：将建模点数据与地表形态特征数据进行叠加，得到具有高程误差值与地表形态特征值属性的建模点数据；步骤4：基于具有高程误差值与地表形态特征值属性的建模点数据，建立高程误差值与地表形态特征值之间的回归方程；步骤5：基于地表形态特征数据和回归方程，将地表形态特征数据以原始DEM数据的像素为尺度进行重新采样，获得像素尺度的原始DEM数据误差分布；步骤6：将基于像素尺度的原始DEM数据误差分布与原始DEM数据进行叠加，获得经过校正的原始DEM数据；步骤7：基于检核点数据，分别对原始DEM数据和经过校正的原始DEM数据进行精度评价和对比，获得校正后的精度提高量。