[发明专利]一种基于像素尺度的DEM数据误差评价与校正方法有效

专利信息
申请号: 201711463078.7 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN108038086B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 赵尚民;章诗芳;关瑜晴;贾蓓 申请(专利权)人: 太原理工大学
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 李冉
地址: 030000 *** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 像素 尺度 dem 数据 误差 评价 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种基于像素尺度的DEM数据误差评价与校正方法,其特征在于,所述误差评价与校正方法基于区域内的原始DEM数据、高程点数据以及地表形态特征数据进行,包括以下步骤:

步骤1:根据原始DEM数据和高程点数据,以高程点数据作为控制点,得到误差点数据;

步骤2:将误差点数据分为两类,分别为检核点数据和建模点数据;

步骤3:将建模点数据与地表形态特征数据进行叠加,得到具有高程误差值与地表形态特征值属性的建模点数据;

步骤4:基于具有高程误差值与地表形态特征值属性的建模点数据,建立高程误差值与地表形态特征值之间的回归方程;

步骤5:基于地表形态特征数据和回归方程,将地表形态特征数据以原始DEM数据的像素为尺度进行重新采样,获得像素尺度的原始DEM数据误差分布;

步骤6:将基于像素尺度的原始DEM数据误差分布与原始DEM数据进行叠加,获得经过校正的原始DEM数据;

步骤7:基于检核点数据,分别对原始DEM数据和经过校正的原始DEM数据进行精度评价和对比,获得校正后的精度提高量。

2.根据权利要求1所述的一种基于像素尺度的DEM数据误差评价与校正方法,其特征在于,所述步骤2中的误差点数据通过交叉验证方式或随机采样方式分为检核点数据和建模点数据。

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