[发明专利]用于设备天线的频偏测试方法有效
| 申请号： | 201711458871.8 | 申请日： | 2017-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN108037375B | 公开（公告）日： | 2020-02-21 |
| 发明（设计）人： | 张雪;丁渊明;聂西利;盛成龙 | 申请（专利权）人： | 金卡智能集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;H04B17/29 |
| 代理公司： | 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 | 代理人： | 魏亮 |
| 地址： | 325600 浙江省温*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了用于设备天线的频偏测试方法，属于天线检测领域，包括：搭建用于对设备天线进行检测的测试平台，获取包括被测天线在内的通信线路的路损等级；获取每个路损等级下被测天线在通信过程中的频偏；更换待测产品中的被测天线，得到安装有不同被测天线的待测产品的通信性能参数，基于性能参数对待测产品的结构进行调整。通过根据被测产品天线通信过程中，得到不同路损下频率偏移情况及频偏与功耗之间的关系。同时跟换被测天线，得到不同天线安装在产品中后通信过程，结构及电路环境对天线频偏谐振的影响，进而根据得到的辐射方向图相对于标准全向天线对应的辐射方向图判定对天线通信性能造成因影响的因素，完成对设备天线频偏的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 设备 天线 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.用于设备天线的频偏测试方法，其特征在于，所述频偏测试方法，包括：搭建用于对设备天线进行检测的包括定向耦合器的测试平台，获取包括被测天线在内的通信线路的路损等级；获取每个路损等级下被测天线在通信过程中的频偏；更换待测产品中的被测天线，得到安装有不同被测天线的待测产品的通信性能参数，基于性能参数对待测产品的结构进行调整。
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