[发明专利]用于设备天线的频偏测试方法有效

专利信息
申请号: 201711458871.8 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN108037375B 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 张雪;丁渊明;聂西利;盛成龙 申请(专利权)人: 金卡智能集团股份有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;H04B17/29
代理公司: 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 代理人: 魏亮
地址: 325600 浙江省温*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 用于 设备 天线 测试 方法
【说明书】:

发明提供了用于设备天线的频偏测试方法,属于天线检测领域,包括:搭建用于对设备天线进行检测的测试平台,获取包括被测天线在内的通信线路的路损等级;获取每个路损等级下被测天线在通信过程中的频偏;更换待测产品中的被测天线,得到安装有不同被测天线的待测产品的通信性能参数,基于性能参数对待测产品的结构进行调整。通过根据被测产品天线通信过程中,得到不同路损下频率偏移情况及频偏与功耗之间的关系。同时跟换被测天线,得到不同天线安装在产品中后通信过程,结构及电路环境对天线频偏谐振的影响,进而根据得到的辐射方向图相对于标准全向天线对应的辐射方向图判定对天线通信性能造成因影响的因素,完成对设备天线频偏的测试。

技术领域

本发明属于天线检测领域,特别涉及用于设备天线的频偏测试方法。

背景技术

在天线的设计阶段往往可以得到各项性能都很好的天线,但是在实际使用过程中,之前表现很好的天线却经常出现通信不佳、信号丢失严重的现象,同时天线的功耗也会发生较大的波动。

经过分析可以确定上述问题是由频偏导致的,但是如何对频偏进行精确检测目前还是难以解决的问题,并且因频偏导致的天线性能、功耗波动也无法得到圆满的解决。

发明内容

为了解决现有技术中存在的缺点和不足,本发明提供了通过基于路损等级对被测天线进行频偏测试,从而提高被测天线通信性能的频偏测试方法。

为了达到上述技术目的,本发明提供了用于设备天线的频偏测试方法,所述频偏测试方法,包括:

搭建用于对设备天线进行检测的包括定向耦合器的测试平台,获取包括被测天线在内的通信线路的路损等级;

获取每个路损等级下被测天线在通信过程中的频偏;

更换待测产品中的被测天线,得到安装有不同被测天线的待测产品的通信性能参数,基于性能参数对待测产品的结构进行调整。

可选的,所述搭建用于对设备天线进行检测的包括定向耦合器的测试平台,包括:

选取屏蔽箱,在屏蔽箱内放置有标准天线以及安装有被测天线的待测样品,其中,标准天线连接有设置在屏蔽箱外的信号源;

在待测样品中设有与被测天线连接的定向耦合器,在定向耦合器的输出端连接有待测样品射频模块,在待测样品射频模块的输出端连接有处理芯片以及信号处理电路;

在屏蔽箱外侧设有与定向耦合器连接的矢量网络分析仪和频谱仪,以及通过串口与待测样品模块和信号处理电路连接的功耗分析仪。

可选的,所述获取包括被测天线在内的通信线路的路损等级,包括:

根据待测产品中被测天线的工作频段,选取与被测天线调制模式一致的波形文件,令信号源基于波形文件通过标准天线发射标准信号,获取被测天线耦合接收标准信号在频谱仪上显示的示数,基于示数确定当前路损等级。

可选的,所述获取每个路损等级下被测天线在通信过程中的频偏,包括:

根据频谱仪显示的示数对信号源的输出功率进行调整,获取每次调整后被测天线的丢包率;

当丢包率低于预设阈值时,通过矢量网络分析仪获取当前状态下被测天线接收到信号的驻波比值,进而获取频偏;

获取被测天线输出的电流波形,借助功耗分析仪获取被测天线在通信过程中的功耗。

可选的,所述更换待测产品中的被测天线,得到安装有不同被测天线的待测产品的通信性能参数,基于性能参数对待测产品的结构进行调整,包括:

更换待测产品中的被测天线,获取安装有不同被测天线的待测产品的通信性能参数,根据通信性能参数确定每个被测天线的辐射方向图;

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