[发明专利]一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统

摘要

一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统，包括上位机和测试板；上位机负责测试结果显示及存储；测试板包括信号发生模块、信号调理模块、时钟产生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元；测试板负责产生微系统ADC单元输入信号和采样时钟，并完成ADC单元输出数据采集、存储及处理，最终得到微系统ADC单元主要动态性能参数。本发明充分利用微系统内部集成的FPGA单元高速数据处理能力，通过微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，减少额外数据传输的开销以及信号间的干扰，系统可以对数模混合微系统ADC单元动态参数进行可靠准确的测试。

主权项

1.一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统，其特征在于包括包括：上位机和测试板，其中：上位机负责对测试结果进行显示和存储；测试板包括信号发生模块、信号调理模块、时钟产生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元；信号调理模块与信号发生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元相连；时钟产生模块与微系统ADC单元以及微系统FPGA单元相连；微系统FPGA单元通过通信接口与上位机相连；信号发生模块使用晶体振荡器产生一个单音正弦波信号；信号调理模块对信号发生模块产生的信号进行滤波处理，产生ADC单元输入信号；时钟产生模块由锁相环PLL电路产生，为ADC单元及FPGA单元提供时钟；微系统ADC单元采集由信号发生模块产生并由信号调理模块处理的输入信号，将输入的模拟信号转换为数字信号；微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，得出微系统ADC单元的动态性能参数，将测试结果通过USB通信接口上传至上位机进行显示及存储。