[发明专利]集成电路测试仪的数字波形测试方法

摘要

本发明公开了一种集成电路测试仪的数字波形测试方法，包括以下步骤：读取数据产生命令发给驱动芯片；据设置的发送器速率及位宽设置向量波形生成模块、开关信息生成模块内FIFO的位宽N及深度；设置的速率Rate决定波形数据、及开关数据的分辨率为1/Rate，一个N位宽的数据则代表N/Rate时间长度的数据，读取周期T及边沿定位信息D1、D2，将一个周期数据分为T*Rate/N个数据顺序存入波形数据；发送器速率及位宽设置相同，读取周期及边沿定位信息D0、D3，将一个周期的开关信息分为T*Rate/N个数据顺序存入开关数据；写入FIFO的同时，按流水线操作读取波形及开关数据，并通过发送器发给驱动数据。

主权项

1.一种集成电路测试仪的数字波形测试系统，其特征在于：包括存储模块、读取模块、向量波形生成模块、开关数据生成模块、驱动生成模块、发送模块；所述的存储模块：存储上位机发送的向量信息、周期信息、边沿定位信息、驱动信息数据；所述的读取模块：读取向量、周期、边沿定位信息、驱动信息给向量波形生成模块、开关数据生成模块、驱动生成模块生成波形数据；所述的向量波形生成模块：根据周期、边沿定位信息生成用于测量DUT功能的向量波形；所述的开关数据生成模块：用于控制开、关、高阻状态；所述的驱动生成模块：用于控制测量DUT所需要的不同电压电流；所述的发送模块：将向量波形及开关信息按照时序通过Transmitter发送。所述的向量信息为：用于给DUT功能测量的高、低的波形数据信息，此信息数据量较大存储在DDR3大容量存储单元。所述的周期信息及边沿定位信息为：指给DUT的波形何时高何时低以及何时开何时关，具体分为：T：一个驱动周期；D0：一个T内，D0时刻驱动由高阻态转为正常状态；D1：一个T内，D1时刻输出驱动数据开始；D2：一个T内，D2时刻输出驱动数据停止；D3：一个T内，D3时刻输出由正常到高阻态。所述的驱动信息：用于DUT测试的不同电压电流。