[发明专利]集成电路测试仪的数字波形测试方法

权利要求书

1.一种集成电路测试仪的数字波形测试方法，其特征在于：包括以下步骤：

第一步：依次接收并存储上位机发送的向量信息、周期信息、边沿定位信息、驱动信息数据；

第二步：读取驱动数据，产生命令发给驱动芯片；

第三步：根据发送器Transmitter速率Rate以及位宽，设置向量波形生成模块内FIFO存储器的位宽N及深度和开关信息生成模块内FIFO存储器的位宽N及深度；

第四步：设置的速率Rate决定波形数据和开关数据的分辨率为1/Rate，一个位宽N的数据则代表N/ Rate时间长度的数据，读取周期T以及边沿定位信息D1和D2，将一个周期T数据分为T*Rate/N个数据顺序存入波形数据FIFO存储器；

第五步：发送器Transmitter速率Rate以及位宽设置相同，读取周期T以及边沿定位信息D0和D3，将一个周期T的开关信息分为T*Rate/N个数据顺序存入开关数据FIFO存储器；

第六步：写入波形数据FIFO存储器和开关数据FIFO存储器的同时，按照流水线操作读取波形数据FIFO存储器、开关数据FIFO存储器，通过发送器Transmitter发给驱动芯片产生驱动数据;

所述的向量信息为：用于给DUT功能测量所需高和低的波形数据信息，此信息数据量存储在DDR3大容量存储单元;

所述的周期信息及边沿定位信息为：指给DUT的波形何时高何时低以及何时开何时关，具体分为：

周期T：一个驱动周期；

D0：一个周期T内，D0时刻驱动由高阻态转为正常状态；

D1：一个周期T内，D1时刻输出驱动数据开始；

D2：一个周期T内，D2时刻输出驱动数据停止；

D3：一个周期T内，D3时刻输出由正常到高阻态;

所述的驱动信息：用于DUT测试的不同电压电流。