[发明专利]一种集成电路时间参数测试电路及方法

摘要

本发明公开了一种集成电路时间参数测试电路及方法，包括被测信号调理单元，被测信号调理单元对接收集成电路输出的被测信号输入波形进行整理后输出至被测信号触发单元，在被测信号触发单元中，整理后的被测信号与设定的启/停信号触发电平经一个比较电路比较后输出启/停信号至所述第一启动/停止信号生成单元，第一启动/停止信号生成单元将启/停信号生成触发脉冲控制时间测量单元对被测信号时间参数的测量；所述第一启动/停止信号生成单元与时间测量单元之间设置有一个启动/停止信号控制单元，本发明通过设置合适的触发条件控制时间测量单元启动/停止信号闸门的关断和开启，可以应对被测信号质量不理想时的时间参数测试问题，有效的解决复杂的时间参数测试需求。

主权项

1.一种集成电路时间参数测试电路，包括被测信号调理单元（1）、被测信号触发单元（2）、第一启动/停止信号生成单元（3）和时间测量单元（4），被测信号调理单元（1）对接收集成电路输出的被测信号输入波形（a）进行整理后输出整理后的被测信号至被测信号触发单元（2），在被测信号触发单元（2）中将整理后的被测信号与设定的启/停信号触发电平经一个比较电路比较后输出启/停信号至所述第一启动/停止信号生成单元（3），第一启动/停止信号生成单元（3）将启/停信号生成触发脉冲控制时间测量单元（4）对被测信号时间参数的测量；其特征在于，所述第一启动/停止信号生成单元（3）与时间测量单元（4）之间设置有一个启动/停止信号控制单元（5），所述启动/停止信号控制单元（5）包括一个启动/停止信号选择单元（501），启动/停止信号选择单元（501）的输出连接一个启动/停止信号输出控制闸门（502），启动/停止信号输出控制闸门（502）输出连接所述时间测量单元（4），所述启动/停止信号选择单元（501）有第一选择输入和第二选择输入，第一选择输入连接所述第一启动/停止信号生成单元（3）的输出，第二选择输入连接一个由微处理器控制的触发控制单元（6）的第一输出，所述触发控制单元（6）包括一个触发信号选择单元（601），所述触发信号选择单元有第一输入选择和第二输入选择，第一输入选择连接所述被测信号输入波形（a），第二输入选择连接一个预设定的触发信号输入（b），所述触发信号选择单元（601）经一个触发信号调理单元（602）连接一个触发信号触发单元（603），所述触发信号触发单元（603）输出第一计数触发信号至一个参数计数器单元（604），参数计数器单元（604）的第二计数触发信号输入或者是被计数信号输入连接的是被测信号触发单元（2）的输出，参数计数器单元（604）的输出同时分别连接第二启动/停止信号生成单元（605）和闸门控制信号生成单元（606），所述第二启动/停止信号生成单元（605）的输出是所述触发控制单元（6）的第一输出，所述闸门控制信号生成单元（606）输出作为所述触发控制单元（6）的第二输出，第二输出作为闸门触发信号连接所述启动/停止信号输出控制闸门（502）。/n