[发明专利]测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 201711440701.7 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN109975624B 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 孟宪伟;高亚峰;孙友权 申请(专利权)人: 无锡华润华晶微电子有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 林祥
地址: 214135 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请提供一种测试系统及测试方法。其中,所述测试系统具有至少两个测试仪的测试装置、分选机、及分别与所述至少两个测试仪及分选机连接的控制装置;其中,所述控制装置提供用户界面供用户根据产品的测试项目编辑测试程序,所述测试项目包括多个测试参数,所述控制装置将所述多个测试参数分配为至少两个参数组,每一参数组由一个对应的测试仪来测试,所述分选机在控制装置的控制下将所述产品移动至对应的测试仪处。本申请提供的上述测试系统,通过同一测试程序将产品测试项目的多个测试参数分配为至少两个参数组,并通过至少两个测试仪同时对产品进行测试,有利于节省了后续其他测试项目的等待时长,从而提高了整体的测试效率。
搜索关键词: 测试 系统 方法
【主权项】:
1.一种测试系统,其特征在于,包括:具有至少两个测试仪的测试装置、分选机、及分别与所述至少两个测试仪及分选机连接的控制装置;其中,所述控制装置提供用户界面供用户根据产品的测试项目编辑测试程序,所述测试项目包括多个测试参数,所述控制装置将所述多个测试参数分配为至少两个参数组,每一参数组由一个对应的测试仪来测试,所述分选机在控制装置的控制下将所述产品移动至对应的测试仪处。
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