[发明专利]分光辐射谱仪检测头结构有效

专利信息
申请号: 201711434728.5 申请日: 2017-12-26
公开(公告)号: CN109959500B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 徐进成;郑明忠;马子一 申请(专利权)人: 宇瞻科技股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 聂慧荃;郑特强
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明为一种分光辐射谱仪检测头结构,其包括结合件、载具、多条光纤及光罩,结合件包括有一轴线,载具包括有贯穿至载具两端的通道,该通道的孔径为一微米以上,一毫米以下,载具沿着结合件的轴线而穿置于结合件,且通道沿着结合件的轴线延伸,多条光纤沿着结合件的轴线而穿置于通道,各光纤的孔径为二十五微米以上,三十五微米以下,多条光纤的数量设为二十条以上,光罩结合于结合件,各光纤的其中一端延伸至光罩内;本发明的多条光纤,能涵盖光线偏振的各种角度,能解决现有的分光辐射谱仪的偏振光的偏振角度与光纤在检测头内部的分布方位没有完全对正的问题,提供一种能减少光学偏振影响仪器量测时间与提升测量品质的分光辐射谱仪检测头结构。
搜索关键词: 分光 辐射 检测 结构
【主权项】:
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