[发明专利]激光介质热效应测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201711424268.8 申请日: 2017-12-25
公开(公告)号: CN107860786A 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 路国光;恩云飞;黄云;赖灿雄;尧彬;李树旺 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所
主分类号: G01N25/00 分类号: G01N25/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 陈金普
地址: 510610 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种热效应测试装置,包括半导体固体激光器、二向色镜以及红外热像仪;半导体固体激光器的工作物质为激光介质;二向色镜向红外热像仪传递激光介质的红外热辐射信息;红外热像仪根据红外热辐射信息检测激光介质的热效应。本发明利用二向色镜,使光路发生偏折,有效的将激光介质的红外热辐射传递给红外热像仪,实现了激光介质热效应的非接触式精密测试,具有结构简单,操作简便,测试精度较高的优势。
搜索关键词: 激光 介质 热效应 测试 装置 方法
【主权项】:
一种热效应测试装置,其特征在于,包括半导体固体激光器、二向色镜以及红外热像仪;所述半导体固体激光器的工作物质为激光介质;所述二向色镜向所述红外热像仪传递所述激光介质的红外热辐射信息;所述红外热像仪根据所述红外热辐射信息检测所述激光介质的热效应。
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