[发明专利]电路板腐蚀监控方法和装置以及环境腐蚀监控方法和装置有效

专利信息
申请号: 201711421782.6 申请日: 2017-12-25
公开(公告)号: CN108169112B 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 江国栋;郭强;盛永 申请(专利权)人: 联想(北京)有限公司
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00;G01N27/04
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 安之斐
地址: 100085*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明的实施例提供了一种电路板腐蚀监控方法和装置以及环境腐蚀监控方法和装置,所述电路板腐蚀监控方法包括:在电路板上设置待检测电阻,获取所述待检测电阻的初始电阻值;对所述待检测电阻的电阻值随时间的变化趋势进行实时监控,获取所述待检测电阻的电阻值随时间的变化曲线;根据所述变化曲线判断所述电路板的腐蚀程度。
搜索关键词: 电路板 腐蚀 监控 方法 装置 以及 环境
【主权项】:
1.一种电路板腐蚀监控方法,包括:

在电路板上设置待检测电阻,获取所述待检测电阻的初始电阻值;

对所述待检测电阻的电阻值随时间的变化趋势进行实时监控,获取所述待检测电阻的电阻值随时间的变化曲线;

根据所述变化曲线判断所述电路板的腐蚀程度。

2.如权利要求1所述的方法,其中,所述对所述待检测电阻的电阻值随时间的变化趋势进行实时监控包括:

将所述待检测电阻与具有固定电阻值的预设电阻在电路中串联;

测量特定时刻所述待检测电阻和与其串联的预设电阻在电路中各自的电压值,并结合所述预设电阻的固定电阻值,获取这一时刻所述待检测电阻的电阻值。

3.如权利要求1所述的方法,其中,所述对所述待检测电阻的电阻值随时间的变化趋势进行实时监控包括:

将所述待检测电阻与具有固定电阻值的预设电阻在电路中并联;

测量特定时刻所述待检测电阻和与其串联的预设电阻在电路中各自的电流值,并结合所述预设电阻的固定电阻值,获取这一时刻所述待检测电阻的电阻值。

4.如权利要求1所述的方法,其中,根据所述变化曲线判断所述电路板的腐蚀程度包括:

当所述待检测电阻的电阻值达到预设阈值时,对所述电路板进行更换。

5.如权利要求1所述的方法,其中,根据所述变化曲线判断所述电路板的腐蚀程度包括:

当在特定时刻,所述变化曲线上对应的点的电阻值与预设曲线上对应的点的电阻值的差达到预设差值时,或所述变化曲线上对应的点的切线的斜率达到预设斜率值时,进行报警。

6.一种环境腐蚀监控方法,包括:

在待检测环境中设置预设寿命电路板,所述预设寿命电路板在预设环境下具有预设的使用寿命;

根据所述预设寿命电路板在所述待检测环境中的腐蚀状况进行环境腐蚀监控。

7.如权利要求6所述的方法,其中,所述根据所述预设寿命电路板在所述待检测环境中的腐蚀状况进行环境腐蚀监控包括:

当所述预设寿命电路板在待检测环境下的使用寿命大于所述预设的使用寿命,则判断所述待检测环境的质量等级优于所述预设环境的质量等级;

当所述预设寿命电路板在待检测环境下的使用寿命小于所述预设的使用寿命,则判断所述待检测环境的质量等级劣于所述预设环境的质量等级。

8.如权利要求6所述的方法,其中,所述根据所述预设寿命电路板在所述待检测环境中的腐蚀状况进行环境腐蚀监控包括:

获取在预设时间段内所述预设寿命电路板表面材料的腐蚀厚度;

根据所述腐蚀厚度和预设时间段的长度计算所述预设寿命电路板在待检测环境中的腐蚀速率。

9.一种电路板腐蚀监控装置,包括:

待检测电阻,设置于所述电路板上,所述待检测电阻具有初始电阻值;

处理器,配置为实时监控所述待检测电阻的电阻值随时间的变化趋势,获取所述待检测电阻的电阻值随时间的变化曲线,并根据所述变化曲线判断所述电路板的腐蚀程度。

10.一种环境腐蚀监控装置,包括:

预设寿命电路板,在预设环境下具有预设的使用寿命,所述预设寿命电路板设置在待检测环境中;

处理器,配置为根据所述预设寿命电路板在所述待检测环境中的腐蚀状况进行环境腐蚀监控。

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