[发明专利]电路板腐蚀监控方法和装置以及环境腐蚀监控方法和装置有效
| 申请号： | 201711421782.6 | 申请日： | 2017-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN108169112B | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 江国栋;郭强;盛永 | 申请（专利权）人： | 联想（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00;G01N27/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 安之斐 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电路板 腐蚀 监控 方法 装置 以及 环境 | ||
1.一种环境腐蚀监控方法，包括：
在待检测环境中设置预设寿命电路板，所述预设寿命电路板在预设环境下具有预设的使用寿命；
根据所述预设寿命电路板在所述待检测环境中的腐蚀状况进行环境腐蚀监控；
其中，所述根据所述预设寿命电路板在所述待检测环境中的腐蚀状况进行环境腐蚀监控包括：
获取在预设时间段内所述预设寿命电路板表面材料的腐蚀厚度；
根据所述腐蚀厚度和预设时间段的长度计算所述预设寿命电路板在待检测环境中的腐蚀速率；
其中，所述根据所述预设寿命电路板在所述待检测环境中的腐蚀状况进行环境腐蚀监控还包括：
当所述预设寿命电路板在待检测环境下的使用寿命大于所述预设的使用寿命，则判断所述待检测环境的质量等级优于所述预设环境的质量等级；
当所述预设寿命电路板在待检测环境下的使用寿命小于所述预设的使用寿命，则判断所述待检测环境的质量等级劣于所述预设环境的质量等级。
2.一种环境腐蚀监控装置，包括：
预设寿命电路板，在预设环境下具有预设的使用寿命，所述预设寿命电路板设置在待检测环境中；
处理器，配置为根据所述预设寿命电路板在所述待检测环境中的腐蚀状况进行环境腐蚀监控；
其中，所述处理器获取在预设时间段内所述预设寿命电路板表面材料的腐蚀厚度；
根据所述腐蚀厚度和预设时间段的长度计算所述预设寿命电路板在待检测环境中的腐蚀速率；
其中，所述根据所述预设寿命电路板在所述待检测环境中的腐蚀状况进行环境腐蚀监控包括：
当所述预设寿命电路板在待检测环境下的使用寿命大于所述预设的使用寿命，则判断所述待检测环境的质量等级优于所述预设环境的质量等级；
当所述预设寿命电路板在待检测环境下的使用寿命小于所述预设的使用寿命，则判断所述待检测环境的质量等级劣于所述预设环境的质量等级。
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