[发明专利]一种高温高压辐照环境下进行物位测量的装置在审
| 申请号： | 201711418132.6 | 申请日： | 2017-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN108267194A | 公开（公告）日： | 2018-07-10 |
| 发明（设计）人： | 武东健;李文峰;任大呈;张晓菲;吴佳灵;孟祥军;赵一阳 | 申请（专利权）人： | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号： | G01F23/284 | 分类号： | G01F23/284 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 吕岩甲 |
| 地址： | 100076 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于核电行业物位检测技术领域，具体涉及一种高温高压辐照环境下进行物位测量的装置。包括测量探头、电气贯穿件、双同轴电缆和检测电路；双同轴电缆的两端分别与测量探头、检测电路连接，双同轴电缆贯串部位设计有具备双同轴屏蔽结构的电气贯穿件。本发明将防挂料设计应用于高温、高压石墨粉尘环境，通过试验验证，在避免石墨粉尘附着对测量结果影响的同时，实现了对高温、高压、辐照环境下物位进行可靠测量。 | ||
| 搜索关键词： | 辐照环境 同轴电缆 电气贯穿件 测量探头 高温高压 检测电路 石墨粉尘 物位测量 核电行业 可靠测量 屏蔽结构 设计应用 物位检测 挂料 同轴 物位 附着 验证 试验 | ||
【主权项】：
1.一种高温高压辐照环境下进行物位测量的装置，其特征在于：包括测量探头(1)、电气贯穿件(2)、双同轴电缆(3)和检测电路(4)；双同轴电缆(3)的两端分别与测量探头(1)、检测电路(4)连接，双同轴电缆(3)贯串部位设计有具备双同轴屏蔽结构的电气贯穿件(2)。
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