[发明专利]一种高温高压辐照环境下进行物位测量的装置

权利要求书

1.一种高温高压辐照环境下进行物位测量的装置，其特征在于：包括测量探头(1)、电气贯穿件(2)、双同轴电缆(3)和检测电路(4)；双同轴电缆(3)的两端分别与测量探头(1)、检测电路(4)连接，双同轴电缆(3)贯串部位设计有具备双同轴屏蔽结构的电气贯穿件(2)。

2.根据权利要求1所述的高温高压辐照环境下进行物位测量的装置，其特征在于：所述的测量探头(1)采取防挂料结构形状，并具备双同轴结构形式，能够耐高温、高压和辐照环境。

3.根据权利要求1所述的高温高压辐照环境下进行物位测量的装置，其特征在于：所述的双同轴电缆(3)进行信号传输，具备耐高温、高压和辐照性能。

4.根据权利要求1所述的高温高压辐照环境下进行物位测量的装置，其特征在于：所述的检测电路(4)基于射频导纳原理，针对测量探头(1)和电气贯穿件(2)、双同轴电缆(3)阻容特性调节电路参数，使电路检测物位信号可靠，且具有防挂料功能，从而实现物位测量。