[发明专利]一种光发射器调试装置及其调试方法

摘要

本发明涉及一种光发射器调试装置及其调试方法，包括上位机、参数检测模块、物料数据库、ERP系统、测试板和眼图仪，参数检测模块用于光模块产品所用光器件入库时的参数检测；物料数据库用于保存光模块产品所用光器件的参数信息，ERP系统用于保存企业数据管理信息；测试板用于对光发射器进行调试测试，眼图仪用于读取测试板的测试值；上位机用于根据光模块产品的制造单号查询所述ERP系统内对应的BOM清单，并从所述BOM清单中获取光发射器的批号。本发明的有益效果是：通过在光发射器内写入其真实测试值的方式进行调试，无需循环或只需少量的循环，即可完成光发射器的调试工序，从而缩短了生产工时。 1

主权项

1.一种光发射器调试装置，其特征在于：包括上位机、参数检测模块、物料数据库、ERP系统、测试板和眼图仪，所述参数检测模块的信号输出端与所述物料数据库的信号输入端连接，所述物料数据库、所述ERP系统、所述测试板和所述眼图仪分别与所述上位机连接；所述测试板还与所述眼图仪连接；

所述参数检测模块用于光模块产品所用光器件入库时的参数检测，获得的检测参数作为光模块产品所用光器件调试测试时的测试参数；

所述物料数据库用于保存光模块产品所用光器件的参数信息，其中所述参数信息包括与所述测试参数相对应的流水号；

所述ERP系统用于保存企业数据管理信息，其中所述企业数据管理信息包括光模块产品的BOM清单、调试目标值及所述测试参数；

所述测试板用于对光发射器进行调试测试；

所述眼图仪用于读取所述测试板的测试值；

所述上位机用于根据光模块产品的制造单号查询所述ERP系统内对应的BOM清单及调试目标值，并从所述BOM清单中获取光发射器的批号；所述上位机还用于根据所述批号查询所述物料数据库，获取光发射器的的流水号，并从所述ERP系统中调取与所述流水号相对应的测试参数；所述上位机将所述测试参数写入光发射器，并控制所述测试板对光发射器进行调试测试；所述上位机还用于读取所述眼图仪上的当前测试值C，并将所述当前测试值C与调试目标值相比较，若当前测试值C与调试目标值不一致，则所述上位机还用于计算并设置光发射器的调整测试值。

2.根据权利要求1所述一种光发射器调试装置，其特征在于：所述物料数据库和所述ERP系统均通过RJ45接口与所述上位机连接，所述测试板通过I²C接口与所述上位机连接，所述眼图仪通过USB接口与所述上位机连接，所述测试板通过光纤与所述眼图仪连接。

3.根据权利要求1所述一种光发射器调试装置，其特征在于：所述参数检测模块为光器件参数检测仪。

4.根据权利要求3所述一种光发射器调试装置，其特征在于：所述光器件参数检测仪的参数检测包括光发射器入库时的光功率、电流和电压的检测。

5.根据权利要求1所述一种光发射器调试装置，其特征在于：所述调试目标值为光模块产品对光发射器参数的要求值。

6.根据权利要求5所述一种光发射器调试装置，其特征在于：所述光发射器调试装置还包括条码扫描器，所述条码扫描器用于扫描所述流水号的条码。

7.根据权利要求6所述一种光发射器调试装置，其特征在于：所述条码扫描器通过USB接口与所述上位机连接，所述上位机通过USB接口控制所述条码扫描器扫描所述流水号的条码，并从所述ERP系统中调取与所述流水号相对应的测试参数。

8.一种光发射器调试装置的调试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S01：上位机接收输入的光模块产品的制造单号；

S02：上位机根据制造单号查询ERP系统，获取与该制造单号对应的调试目标值及BOM清单；

S03：上位机根据BOM清单获取光发射器的批号，然后根据所述批号查询物料数据库，获得光发射器的流水号，并从所述ERP系统中调取与所述流水号相对应的测试参数；

S04：将光发射器插入测试板，上位机将所述测试参数写入光发射器，上位机对眼图仪进行参数设置，测试板对光发射器进行调试测试；

S05：眼图仪实时读取测试板的测试值；

S06：上位机读取眼图仪上的当前测试值C，并将所述当前测试值C与调试目标值相比较，若当前测试值C与调试目标值一致，则调试结束；

S07：若当前测试值C与调试目标值不一致，则上位机调整光发射器的参数值，并将该调整参数值写入光发射器，并重复进行所述步骤S04至所述步骤S06，直至当前测试值C与调试目标值一致。

9.根据权利要求8所述一种光发射器调试装置的调试方法，其特征在于，所述步骤S03中，上位机从所述ERP系统中调取与所述流水号相对应的测试参数是通过控制条码扫描器扫描所述流水号的条码实现的。

10.根据权利要求8所述一种光发射器调试装置的调试方法，其特征在于，所述上位机调整光发射器的参数值具体包括以下步骤：

S08.1：上位机根据所述ERP系统中的检测参数，计算同批次光发射器的参数均值M；

S08.2：上位机计算当前测试值C与参数均值M的差值R，即R＝C‑M；

S08.3：上位机计算调整步进值S，S＝R/N＝(C‑M)/N，其中N为整数值，并根据光发射器允许的误差确定，N值越大，调试的误差越小；

S08.4：所述调整参数值即为当前测试值C与调整步进值S的和。