[发明专利]用于正电子发射成像设备的检测器及正电子发射成像设备有效

专利信息
申请号: 201711361844.9 申请日: 2017-12-18
公开(公告)号: CN108132483B 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 张熙;谢思维;杨静梧;赵指向;黄秋;彭旗宇 申请(专利权)人: 中派科技(深圳)有限责任公司;广东影诺数字医学科技有限公司
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29;G01T1/164
代理公司: 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 代理人: 徐丁峰;付伟佳
地址: 518063 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种检测器和具有该检测器的正电子发射成像设备。检测器包括闪烁晶体阵列和光电传感器阵列。闪烁晶体阵列包括第一晶体模块和第二晶体模块,第一晶体模块由多个片状晶体沿对应片状晶体的厚度方向的第一排列方向排列而成,第二晶体模块由多个片状晶体沿对应片状晶体的厚度方向的第二排列方向排列而成,第一排列方向对应立体空间上的x向,第二排列方向对应立体空间上的y向,第一晶体模块与第二晶体模块呈上下正交布置,闪烁晶体阵列的光读出面对应第一晶体模块的上表面或/和第二晶体模块的下表面。光电传感器阵列耦合至闪烁晶体阵列的光读出面。本发明加工难度降低,系统成本下降,能很好地减少边缘效应带来的解码误差。
搜索关键词: 用于 正电子 发射 成像 设备 检测器
【主权项】:
一种用于正电子发射成像设备的检测器,其特征在于,包括:闪烁晶体阵列,其具有光读出面,所述闪烁晶体阵列包括第一晶体模块和第二晶体模块,所述第一晶体模块由多个片状晶体沿对应片状晶体的厚度方向的第一排列方向排列而成,所述第二晶体模块由多个片状晶体沿对应片状晶体的厚度方向的第二排列方向排列而成,所述第一排列方向对应立体空间上的X向,所述第二排列方向对应立体空间上的Y向,所述第一晶体模块与所述第二晶体模块呈上下正交布置,所述光读出面对应第一晶体模块的上表面或/和第二晶体模块的下表面;以及光电传感器阵列,其耦合至所述闪烁晶体阵列的所述光读出面。
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