[发明专利]一种测试方法及装置有效
| 申请号： | 201711354386.6 | 申请日： | 2017-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN108335718B | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 檀华丽 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种测试方法及装置，所述方法包括：将生成的测试指令设置在存储区；当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。本发明实施例可以应用于处理器中，处理器负责生成测试指令，可编程器件负责获取并发送测试指令，从而使得软件处理和硬件处理并行、生成测试指令和执行测试指令并行，可以消除因测试指令生成占用时间造成的延迟，提升测试的精确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：将生成的测试指令设置在存储区；当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。
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