[发明专利]一种基于铺装简单曲面的多次曝光图像重建方法有效

专利信息
申请号: 201711321275.5 申请日: 2017-12-12
公开(公告)号: CN108053378B 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 王蕾;李国亮 申请(专利权)人: 中国科学院紫金山天文台
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 南京钟山专利代理有限公司 32252 代理人: 戴朝荣
地址: 210000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于铺装简单曲面的多次曝光图像重建方法,该方法旨在拟合一簇铺装简单曲面,得到对被观测物体的高分辨率最佳近似图像,对最佳近似图像的一系列模拟观测将得到与真实观测图像几乎一样的图像。该方法同样适用于利用任意一簇参数化铺装曲面对多次曝光图像进行拟合(Tessellated Parameterized Surface Fitting,TPSF),应该说该方法是TPSF的一个特例。在图像重建的保真性方面明显优于前人发展的Drizzle和iDrizzle技术,特别对于细节丰富(小尺寸结构)和流量变化较大的区域有独特优势。自适应TSSF能自动调整计算量到细节丰富的区域,在计算速度上要快于iDrizzle技术。
搜索关键词: 一种 基于 简单 曲面 多次 曝光 图像 重建 方法
【主权项】:
1.基于正向反卷积技术并使用一簇参数化铺装曲面对多次曝光图像进行拟合(Tessellated Parameterized Surface Fitting,TPSF)的技术。
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