[发明专利]射频设备和相应方法有效
| 申请号： | 201711296698.6 | 申请日： | 2017-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN108233978B | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | M·蒂鲍特;M·卡鲁索 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B1/40 | 分类号： | H04B1/40 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 郑立柱;董典红 |
| 地址： | 德国诺伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了确定相位偏移的设备和方法。将第一测试信号从第一RF电路部分发射到第二RF电路部分，在第二RF电路部分处测量在第一测试信号和参考信号(ref)之间的相位差。将第二测试信号从第二RF电路部分发射到第一RF电路部分，在第一RF电路部分处测量在第二测试信号和参考信号(ref)之间的第二相位差。基于第一相位差和第二相位差来确定第一电路部分和第二电路部分之间的连接(14)的相位偏移或者供应参考信号的线路(15)的相位偏移。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 设备 相应 方法 | ||
【主权项】：
1.一种射频设备，包括：第一射频电路部分(10、20)，第二射频电路部分(11、21、31)，信号连接(14)，所述信号连接(14)将所述第一射频电路部分(10、20)耦合到所述第二射频电路部分(11、21、31)，参考线路(15)，所述参考线路(15)被配置为向所述第一射频电路部分(10、20)和所述第二射频电路部分(11、21、31)供应参考信号，其中所述第一射频电路部分(10、20)被配置为基于所述参考信号生成第一测试信号(s1)并且经由所述信号连接(14)发射所述第一测试信号，其中所述第二射频电路部分被配置为测量在经由所述信号连接(14)接收的所述第一测试信号与所述参考信号之间的第一相位差，其中所述第二射频电路部分被配置为基于所述参考信号生成第二测试信号(s2)并且经由所述信号连接(14)发射所述第二测试信号，其中所述第一射频电路部分被配置为测量在经由所述信号连接(14)接收的所述第二测试信号与所述参考信号之间的第二相位差，以及其中所述射频设备被配置为基于所述第一相位差和所述第二相位差来确定由所述信号连接引起的相位偏移或由提供所述参考信号的参考线路引起的相位偏移中的至少一项。
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