[发明专利]射频设备和相应方法有效

专利信息
申请号: 201711296698.6 申请日: 2017-12-08
公开(公告)号: CN108233978B 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: M·蒂鲍特;M·卡鲁索 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: H04B1/40 分类号: H04B1/40
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 郑立柱;董典红
地址: 德国诺伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射频 设备 相应 方法
【权利要求书】:

1.一种射频设备,包括:

第一射频电路部分(10、20),

第二射频电路部分(11、21、31),

信号连接(14),所述信号连接(14)将所述第一射频电路部分(10、20)耦合到所述第二射频电路部分(11、21、31),

参考线路(15),所述参考线路(15)被配置为向所述第一射频电路部分(10、20)和所述第二射频电路部分(11、21、31)供应参考信号,其中所述参考线路与所述信号连接分离,

其中所述第一射频电路部分(10、20)被配置为基于所述参考信号生成第一测试信号(s1)并且经由所述信号连接(14)发射所述第一测试信号,

其中所述第二射频电路部分被配置为测量在经由所述信号连接(14)接收的所述第一测试信号与经由所述参考线路接收的所述参考信号之间的第一相位差,

其中所述第二射频电路部分被配置为基于所述参考信号生成第二测试信号(s2)并且经由所述信号连接(14)发射所述第二测试信号,

其中所述第一射频电路部分被配置为测量在经由所述信号连接(14)接收的所述第二测试信号与经由所述参考线路接收的所述参考信号之间的第二相位差,以及

其中所述射频设备被配置为基于所述第一相位差和所述第二相位差来确定由所述信号连接引起的相位偏移或由提供所述参考信号的所述参考线路引起的相位偏移中的至少一项。

2.根据权利要求1所述的射频设备,其中确定所述相位偏移包括增加所述第一相位差和所述第二相位差。

3.根据权利要求1或2所述的射频设备,其中确定所述偏移包括从所述第一相位差和所述第二相位差中的一个减去所述第一相位差和所述第二相位差中的另一个。

4.根据权利要求1或2所述的设备,其中所述射频设备是相控阵列设备的至少一部分。

5.根据权利要求4所述的射频设备,其中所述第一射频电路部分包括数模转换器或模数转换器中的至少一个,并且所述第二射频电路部分是待耦合到相控阵列的天线的相控阵列电路部分。

6.根据权利要求5所述的设备,包括多个第二射频电路部分,所述多个第二射频电路部分包括所述第二射频电路部分,所述多个第二射频电路部分中的每一个第二射频电路部分待耦合到至少一个天线。

7.根据权利要求1至2和5至6中任一项所述的设备,其中所述信号连接(14)是威尔金森树连接的一部分。

8.根据权利要求1至2和5至6中任一项所述的设备,其中所述参考信号是系统时钟信号。

9.根据权利要求1至2和5至6中任一项所述的设备,其中所述信号连接被配置为承载射频通信信号。

10.一种用于确定相位偏移的方法,包括:

在第一射频电路部分处基于由参考线路提供的参考信号产生第一测试信号,

将所述第一测试信号从所述第一射频电路部分经由信号连接发射到第二射频电路部分,其中所述参考线路与所述信号连接分离,

在所述第二射频电路部分处测量在经由所述信号连接接收的所述第一测试信号与经由所述参考线路接收的所述参考信号之间的第一相位差,

在所述第二射频电路部分处基于由所述参考线路提供的所述参考信号产生第二测试信号,

将所述第二测试信号从所述第二射频电路部分经由所述信号连接发射到所述第一射频电路部分,

在所述第一射频电路部分处测量在经由所述信号连接接收的所述第二测试信号与经由所述参考线路接收的所述参考信号之间的第二相位差,以及

基于所述第一相位差和所述第二相位差,至少确定以下项中的至少一项的相位偏移:在所述第一射频电路部分和所述第二射频电路部分之间发射所述第一测试信号和所述第二测试信号的所述信号连接,或者提供所述参考信号的所述参考线路。

11.根据权利要求10所述的方法,其中所述确定包括将所述第一相位差添加到所述第二相位差。

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